掃描電鏡——現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)的”福爾摩斯”
在現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)中，掃描電子顯微鏡（SEM）已成為不可或缺的”神兵利器”。它不僅能將物體放大幾萬倍，更神奇的是，結(jié)合X射線能譜分析技術(shù)（EDX），還能”看到”物質(zhì)的化學(xué)成分！
熱烈慶祝廣州競贏用戶成功發(fā)表頂刊論文|JY-S100為電子顯微成像提供可靠助力
客戶的成功，是衡量我們產(chǎn)品與服務(wù)價值的最終標(biāo)準(zhǔn)，廣州競贏自主研發(fā)的國產(chǎn)設(shè)備也已經(jīng)出現(xiàn)在了一些高品質(zhì)論文中。這是我們最近收集到的一篇深圳大學(xué)發(fā)表在土木工程領(lǐng)域國際權(quán)威期刊 《Construction and Building Materials》中的論文?。
掃描電鏡——現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)的”福爾摩斯”
在現(xiàn)代法醫(yī)學(xué)中，掃描電子顯微鏡（SEM）已成為不可或缺的”神兵利器”。它不僅能將物體放大幾萬倍，更神奇的是，結(jié)合X射線能譜分析技術(shù)（EDX），還能”看到”物質(zhì)的化學(xué)成分！
半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)中位錯等應(yīng)變誘導(dǎo)缺陷的電鏡觀察
高分辨率透射電鏡（HRTEM）等先進(jìn)技術(shù)進(jìn)一步揭示了錯配位錯在原子尺度上適應(yīng)應(yīng)變的機(jī)制。熱力學(xué)研究證實，通過位錯形成實現(xiàn)的應(yīng)變松弛對維持半導(dǎo)體器件的結(jié)構(gòu)完整性具有重要意義。
掃描電鏡（SEM）樣品安裝技術(shù)指南
在進(jìn)行掃描電子顯微鏡（SEM）觀察時，樣品的安裝常常被忽視，但它對成像效果的影響與前期所有準(zhǔn)備工作一樣關(guān)鍵。對樣品安裝步驟予以充分的重視和細(xì)致的操作，將在實際成像中帶來顯著收益。 合理安裝樣品可確保： 所需方向的準(zhǔn)確定位，減少不必要的樣品臺調(diào)節(jié)； 良好的機(jī)械穩(wěn)定性，降低因振動或漂移造成的圖像模糊； 有效的電氣接地，防止圖像中出現(xiàn)充電偽影。 實現(xiàn)理想樣品安裝的三大要素 1. 樣品方向：與電子束/探測器系統(tǒng)的相對關(guān)系 將電子束想象成“你的視線”，而探測器則如“太陽”，決定了圖像中的光照方向與陰影效果。...
高分辨冷凍電鏡的樣品制備技術(shù)與方法論
作者：孫千 本文轉(zhuǎn)載自公眾號：老千和他的朋友們。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/5knEtUmuutzHSsXnUMCpZg 近年來，冷凍電鏡（cryo-EM）技術(shù)在結(jié)構(gòu)生物學(xué)領(lǐng)域取得了革命性的進(jìn)展。這些進(jìn)步主要?dú)w功于幾個關(guān)鍵因素：量子效率更高的直接電子探測器，配備自動對準(zhǔn)和數(shù)據(jù)采集功能的現(xiàn)代化電鏡系統(tǒng)，用于密度圖分類和三維重建的算法軟件的顯著改進(jìn)，以及更為穩(wěn)定、可重復(fù)的樣品支撐技術(shù)。這些技術(shù)創(chuàng)新共同推動了冷凍電鏡結(jié)構(gòu)測定能力的飛躍式發(fā)展，使其成為解析生物大分子結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具。...
關(guān)鍵尺寸掃描電鏡（CD-SEM）技術(shù)解讀
無論是實驗室通用型還是用于集成電路結(jié)構(gòu)和尺寸測量的專用設(shè)備，SEM的基本工作原理基本一致。SEM之所以得名，是因為它利用細(xì)聚焦的電子束，以精確的光柵掃描模式（通常為矩形或正方形）逐點(diǎn)掃描樣品表面。
SEM的電子束來自電子源，通常在0.2千伏到30千伏的加速電壓下運(yùn)行。在半導(dǎo)體生產(chǎn)中，CD-SEM多在0.4千伏至1千伏的電壓范圍內(nèi)工作。電子束沿鏡筒向下，通過一個或多個電子光學(xué)聚光鏡被縮小，其直徑從幾微米逐漸收縮到納米量級。
在SEM中實現(xiàn)4D-STEM及其晶體學(xué)應(yīng)用
作者：孫千 本文轉(zhuǎn)載自公眾號：老千和他的朋友們。原文地址：https://mp.weixin.qq.com/s/tp4Kp5kogCBN43bjx7JT0A 四維掃描透射電鏡（4D-STEM）是一種通過聚焦電子束在電子透明樣品上掃描，同時收集實空間和倒易空間的二維圖像的技術(shù)。這種方法產(chǎn)生四維數(shù)據(jù)集，因此得名4D-STEM。 需要明確的是，這里的維度并不涉及時間；而是指所得四維數(shù)據(jù)集包含空間和衍射信息。具體來說，兩個維度代表樣品中的x和y坐標(biāo)（實空間位置），而另外兩個維度代表每個位置處的衍射圖案中的kx和ky坐標(biāo)（倒易空間）。...
植物透射電鏡福音：數(shù)小時完成樣品制備！優(yōu)化快速微波技術(shù)詳解
傳統(tǒng)的TEM樣品制備，尤其是對于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的植物樣品，其漫長的處理周期（通常需要3-4天）一直是制約研究效率的瓶頸。試劑緩慢的滲透擴(kuò)散速率，常常讓研究人員在等待中消耗寶貴的時間。
今天，為大家介紹一項由美國農(nóng)業(yè)部農(nóng)業(yè)研究局（USDA-ARS）電子與共聚焦顯微鏡部門的 Joseph Mowery 和 Gary Bauchan 研究員帶來的優(yōu)化技術(shù)，該技術(shù)利用快速微波處理，可以優(yōu)化植物樣品TEM制備的流程。
環(huán)境掃描電鏡（ESEM）成像技術(shù)解讀
掃描電鏡(SEM)自問世以來，已成為材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域不可或缺的研究工具。然而，常規(guī)掃描電鏡(CSEM)在樣品制備及成像方面存在明顯局限：需要高真空環(huán)境、樣品必須導(dǎo)電或經(jīng)過導(dǎo)電處理（低電壓成像可不鍍導(dǎo)電膜），且必須處于干燥狀態(tài)。這些限制極大地約束了其在某些領(lǐng)域的應(yīng)用潛力，特別是對于濕態(tài)樣品或絕緣材料的研究。
環(huán)境掃描電鏡(ESEM)技術(shù)的出現(xiàn)，為克服這些限制提供了新的解決方案。
